schlitzbasierte Strahlprofilmessung | Presseportal: Presse-Board.de

MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie

von pr-gateway16. August 2018

Neuer pyroelektrischer Messkopf für die schlitzbasierte Strahlprofilmessung im mittleren Infrarotbereich, erweiterter Messbereich für Silizium-Messköpfe MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie (Bildquelle: @MKS Ophir) MKS Instruments stellt gleich mehrere Neuerungen für die …

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