MKS Instruments stellt neuen Ophir® Wide Beam Imager vor
von Große und divergente Strahlen im kurzwelligen Infrarotbereich einfach messen Der Ophir WB-I SWIR Profiler ermöglicht es, große und divergente Strahlen im SWIR Bereich zu messen (Bildquelle: @Ophir) Darmstadt, 8.12.21 – …
